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PWR263S-35-3R00FE

PWR263S-35-3R00FE

참조 용

부품 번호 PWR263S-35-3R00FE
PNEDA 부품 번호 PWR263S-35-3R00FE
설명 RES SMD 3 OHM 1% 35W D2PAK
제조업체 Bourns
단가 견적 요청
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PWR263S-35-3R00FE 리소스

브랜드 Bourns
ECAD Module ECAD
Mfr. 부품 번호PWR263S-35-3R00FE
분류수동 구성 요소저항기칩 저항기-표면 실장
데이터 시트
PWR263S-35-3R00FE, PWR263S-35-3R00FE 데이터 시트 (총 페이지: 3, 크기: 434.55 KB)
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PWR263S-35-3R00FE 사양

제조업체Bourns
시리즈PWR263S-35
저항3 Ohms
공차±1%
전력 (와트)35W
구성Thick Film
특징Automotive AEC-Q200, Current Sense, Pulse Withstanding
온도 계수±100ppm/°C
작동 온도-55°C ~ 155°C
패키지 / 케이스TO-263-3, D²Pak (2 Leads + Tab), TO-263AB
공급자 장치 패키지D2PAK
크기 / 치수0.398" L x 0.409" W (10.10mm x 10.40mm)
높이-착석 (최대)0.192" (4.88mm)
종료 횟수2
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구성

Thick Film

특징

Moisture Resistant

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

2010 (5025 Metric)

공급자 장치 패키지

2010

크기 / 치수

0.197" L x 0.098" W (5.00mm x 2.50mm)

높이-착석 (최대)

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구성

Thin Film

특징

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온도 계수

±25ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

1206 (3216 Metric)

공급자 장치 패키지

1206

크기 / 치수

0.120" L x 0.061" W (3.05mm x 1.55mm)

높이-착석 (최대)

0.026" (0.65mm)

종료 횟수

2

실패율

-

제조업체

Susumu

시리즈

RG

저항

1.02 kOhms

공차

±0.05%

전력 (와트)

0.1W, 1/10W

구성

Thin Film

특징

Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200

온도 계수

±10ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0603 (1608 Metric)

공급자 장치 패키지

0603

크기 / 치수

0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)

높이-착석 (최대)

0.020" (0.50mm)

종료 횟수

2

실패율

-

D2TO035C6R200FRE3

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제조업체

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시리즈

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저항

6.2 Ohms

공차

±1%

전력 (와트)

35W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200, Moisture Resistant, Non-Inductive

온도 계수

±150ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 175°C

패키지 / 케이스

TO-263-3, D²Pak (2 Leads + Tab), TO-263AB

공급자 장치 패키지

TO-263 (D²Pak)

크기 / 치수

0.398" L x 0.346" W (10.10mm x 8.80mm)

높이-착석 (최대)

0.189" (4.80mm)

종료 횟수

2

실패율

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제조업체

Panasonic Electronic Components

시리즈

ERJ

저항

1.62 kOhms

공차

±1%

전력 (와트)

0.5W, 1/2W

구성

Thick Film

특징

Automotive AEC-Q200, Pulse Withstanding

온도 계수

±100ppm/°C

작동 온도

-55°C ~ 155°C

패키지 / 케이스

0805 (2012 Metric)

공급자 장치 패키지

0805

크기 / 치수

0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)

높이-착석 (최대)

0.028" (0.70mm)

종료 횟수

2

실패율

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